探伤检测又称探伤，是指检测金属材料或构件内部的裂纹或缺陷。探伤试验常用的探伤方法有：X射线探伤、超声波探伤、磁粉探伤、渗透探伤（着色探伤）、涡流探伤、γ射线探伤、萤光探伤等方法。

磁粉探伤： 其基本原理是：工件磁化的时候，如果工件表面存在缺陷，缺陷处磁阻增大，形成局部磁场，磁粉会发生漏磁。会在这里显示缺陷的形状和位置，从而判断缺陷的存在。磁粉探伤是一种用于检测铁磁性材料表面和近表面缺陷的检测方法。
超声波探伤： 超声波在介质中传播的波型有很多种，检测中常用的有纵波、横波、表面波和板波。利用纵波检测金属锭、坯料、中厚板、大型锻件、形状比较简单的夹杂物、裂纹、缩管、白点、分层等缺陷；用横波检测管材的周向和轴向裂纹、划痕、焊缝气孔、夹渣、裂纹、未焊透等缺陷；利用表面波检测形状简单的工件表面缺陷；使用板波检测薄板缺陷中的缺陷。 X射线探伤： 电离当X射线或其他射线（如射线）被物质吸收后，构成该物质的分子可分解成正离子和负离子，这称为电离。离子的数量与物质吸收的X 射线量成正比。电离是由空气或其他物质产生的，用仪表测量电离度可以计算出X射线的量。检测设备就是通过这个来实现零件的探伤。 X 射线还具有其他功能，例如光敏性和荧光性。